AK-1 ANTIPIREN KOMPOZITSIYASINING ELEKTRON SKANERLOVCHI MIKROSKOR (ESM) VA ELEMENT TAHLILI

Abstract

Taklif qilinayotgan yangi AK-1 antipirein to‘qimachilik materiallari olovbardoshligini oshirish uchun xizmat qiladi. Antipiren kompozitsiyalar tuzilishi, mato bilan bog‘ hosil qilganda uning tarkibiy qismlarini yaxshi aralashganligi, boshqa xossalarni tahlil qilish maqsadida elektron-mikroskop va element tahlillardan foydalanildi. Elektron mikroskop tahlil uchun AK-1 namunasi tayyorlandi va vakuumli sharoitda 10-20 nm qalinlikda elektr o‘tkazuvchanligi yuqori bo‘lgan metall (oltin) kukunlar purkalib polimer kompozit metall yuzasini qoplash ketma-ketligi bajarildi.